X射線(xiàn)衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結構，織構及應力，精確的進(jìn)行物相分析，定性分析，定量分析，在當今科技領(lǐng)域里用來(lái)分析各種物質(zhì)成分結構的測試儀器已得到了廣泛的應用。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。
   
    X射線(xiàn)衍射儀都是物質(zhì)表征和質(zhì)量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產(chǎn)業(yè)廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質(zhì)的定量、半定量分析；晶體物質(zhì)晶粒大小的計算；晶體物質(zhì)結晶度的計算等。

    x射線(xiàn)的波長(cháng)和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線(xiàn)的空間衍射光柵，即一束X射線(xiàn)照射到物體上時(shí)，受到物體中原子的散射，每個(gè)原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結果使射線(xiàn)的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。

    對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時(shí)，那些滿(mǎn)足布拉格衍射的晶面就會(huì )被檢測出來(lái)，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長(cháng)程有序，只是在幾個(gè)原子范圍內存在著(zhù)短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。